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PCB的絕緣性劣化，突出表現(xiàn)在電極之間產(chǎn)生離子遷移現(xiàn)象。當(dāng)對PCB工作下施加的電壓增高時，它的絕緣性就會有很快的下降。而離子遷移的間隙，就是導(dǎo)體間的絕緣體中的樹脂內(nèi)微細(xì)空隙、玻璃纖維布和樹脂的粘接界面、銅箔與樹脂的粘接界面、樹脂中的填充材料的粘接界面、絕緣體受到熱沖擊后產(chǎn)生的微細(xì)裂縫等。層間剝離界面剝離、處理液等的不純物的浸入、絕緣體內(nèi)含有不純物、絕緣材料的劣化等，都易于誘發(fā)離子遷移現(xiàn)象在PCB上發(fā)生。在玻纖布的纖維與樹脂之間產(chǎn)生的離子遷移現(xiàn)象，稱作CAF(ConductiveAnodicF1iament)現(xiàn)象。將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線路板上焊接電纜線，施加偏置電壓，然后每隔一段時間，將PCB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出，進(jìn)行絕緣電阻測試，這種間斷式的測試方法，會漏過很多實(shí)際發(fā)生的離子遷移。一方面因?yàn)閷CB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出，PCB會變得干燥，從而導(dǎo)致絕緣電阻的上升，另一方面，當(dāng)PCB在高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中承受偏置電壓時，離子遷移可能隨時發(fā)生。有效的PCB離子遷移測試，需要將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線路板上焊接電纜線，引出至環(huán)境試驗(yàn)箱外的有關(guān)測試設(shè)備上。 上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)提供各類測試系統(tǒng)，歡迎您的咨詢！江蘇CAF測試系統(tǒng)型號

耐電流測試是測試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測試方法。測試中，孔鏈被施加直流電流,此電流在測試過程中隨孔鏈溫度反饋而實(shí)時變化，使得孔鏈以設(shè)定的升溫速度V達(dá)到設(shè)定的高溫T1，然后讓孔鏈在該設(shè)定的高溫T1下保持設(shè)定的時間（t2-t1），停止施加電流，使孔鏈冷卻時間(t3-t2),直到達(dá)到室溫。根據(jù)需要還可以進(jìn)行循環(huán)測試。TI-HCT系列耐電流測試系統(tǒng)具有自動化測試能力，實(shí)時檢測測試Coupon上的阻值變化，描述測試Coupon的阻值、溫度實(shí)時變化曲線，所有測試數(shù)據(jù)實(shí)時保存到數(shù)據(jù)庫中。上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司的產(chǎn)品和技術(shù)都非常成熟。公司擁有技術(shù)和產(chǎn)品專業(yè)技術(shù)100余份，公司研發(fā)團(tuán)隊(duì)實(shí)力雄厚，新品研發(fā)效率比較高；通過多年的沉淀積累，擁有多項(xiàng)專業(yè)技術(shù)，通ISO9001:2015質(zhì)量管理體系認(rèn)證，可生產(chǎn)符合MIL、IEC、DIN等各種國際標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。 江蘇CAF測試系統(tǒng)型號上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司可以為您提供各種測試系統(tǒng)，歡迎隨時咨詢！

TDR測試目前主要使用于PCB(印制電路板)信號線、以及器件阻抗的測試。影響TDR測試精度有很多的原因，主要有反射、校準(zhǔn)、讀數(shù)選擇等，反射會導(dǎo)致較短的PCB信號線測試值出現(xiàn)嚴(yán)重偏差，特別是在使用TIP(探針)去測試的情況下更為明顯，因?yàn)門IP和信號線接觸點(diǎn)會導(dǎo)致很大的阻抗不連續(xù)，導(dǎo)致反射發(fā)生，并導(dǎo)致附近三、四英寸左右范圍的PCB信號線的阻抗曲線起伏。比如單端信號線，差分信號線，連接器等。這種測試有一個要求，就是和實(shí)際應(yīng)用的條件相結(jié)合，比如實(shí)際該信號線的信號上升沿在300ps左右，那么TDR的輸出脈沖信號的上升沿也要相應(yīng)設(shè)置在300ps附近，而不使用30ps左右的上升沿，否則測試結(jié)果可能和實(shí)際應(yīng)用有比較大的差別。

全自動耐電流測試儀可以用于自動尋找PCB孔鏈導(dǎo)通可靠性測試樣品的耐電流測試合適的電流參數(shù)。儀器采用高精度的電源模塊和溫度以及電阻采集模塊，對PCB孔鏈測試樣品,自動嘗試不同的電流,循環(huán)進(jìn)行升溫,冷卻的過程,并實(shí)時監(jiān)測孔鏈的溫度，電流，以及電阻。直到找到合適的電流,PCB孔鏈樣品在此電流下，達(dá)到測試要求。全自動耐電流測試儀也可以用于PCB孔鏈的耐電流測試。全自動耐電流測試儀測試過程中，儀器自動完成測試探頭移動，對位，上下，樣品的參數(shù)測試和批量測試，樣品冷卻，數(shù)據(jù)保存和記錄，數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析，以及測試報告的輸出等。全自動耐電流測試儀，采用人工上板或配置機(jī)械手自動上板，按照設(shè)定的測試程序，自動移動測試探頭和CCD自動對位，進(jìn)行測試，測試完成后人工下板或自動下板。 上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)提供各類測試系統(tǒng)，有需要可以電話咨詢！

導(dǎo)通孔熱應(yīng)力:試驗(yàn)樣品先在135度至149度下烘烤至少4小時,后放入干燥冷卻至室溫,然后用夾子取出樣品,涂布肋焊濟(jì)(含表面及孔內(nèi)),接著去除表面的錫渣且讓樣品漂在288±5℃的錫爐表面,10+1/-0秒(不可用夾子夾住樣品),然后用夾子取出樣晶冷卻到室溫后制作切片查看電鍍孔內(nèi)的金屬和銅箔變,若有隱患性變化異常2、爆板測試:將樣品切成15M10M一塊小板,然后將錫爐溫度調(diào)至288做爆板測試,浸錫3次,每次105,之后檢驗(yàn)外觀并取樣切片觀察:檢查項(xiàng)目為外觀有無分層氣泡、線紋顯露現(xiàn)象:孔壁、孔壁剝離、孔轉(zhuǎn)角裂痕、焊盤剝離、孔破、ICD并看有無掉油墨(每一次試錫均要看)現(xiàn)象等3.低溫存貯:試驗(yàn)樣品在低溫-40℃箱中保持72濁小時,然后在常溫下恢復(fù)2小時后檢測。要求:不得有破損、開裂、脫層、變色、過孔開路、變形(要符合過波峰后變形判定要求)等現(xiàn)象(過孔處借助顯微鏡看),不符合要求。4、冷熱沖擊:把樣品放入溫度為60℃的恒溫箱中保持1小時,然后讓其有5分鐘內(nèi)溫度降低到-30℃的恒溫箱中保持1小時,然后讓其在1分鐘內(nèi)溫度升到60℃保持1小時,接著又改變其溫度到30℃如此共20個循環(huán)樣品在高溫60℃下取出,然后在常溫下恢復(fù)2小時的檢測。要求:不得有破損、開裂、脫層、變色、過孔開路、變形。 各種測試系統(tǒng)，就選上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司，用戶信賴之選，歡迎您隨時來電話咨詢！廣東高電流測試系統(tǒng)供應(yīng)商

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為確保PCB電路板長時間使用的質(zhì)量和可靠度，PCB電路板制造廠家都進(jìn)行SIR（SurfaceInsulationResistance）表面絕緣電阻的試驗(yàn)，通過試驗(yàn)找出PCB是否會發(fā)生MIG（離子遷移）與CAF（玻纖紗陽極性漏電）現(xiàn)象，離子遷移是在加濕狀態(tài)下（如∶85℃/85%.），施加恒定偏壓（如∶50V），離子化金屬向相反電極間移動（陰極向陽極生長），相對電極還原成原來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象，造成短路，離子遷移非常脆弱，在通電瞬間產(chǎn)生的電流會使離子遷移本身溶斷消失。也為了在PCB電路板和部件的生產(chǎn)制造過程中，提高貼片加工的生產(chǎn)效率和良好率，為企業(yè)降低成品生產(chǎn)，提高經(jīng)濟(jì)效益。作者：斯派克環(huán)境儀器鏈接：源：知乎著作權(quán)歸作者所有。商業(yè)轉(zhuǎn)載請聯(lián)系作者獲得授權(quán)，非商業(yè)轉(zhuǎn)載請注明出處。江蘇CAF測試系統(tǒng)型號

上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司專注技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)品研發(fā)，發(fā)展規(guī)模團(tuán)隊(duì)不斷壯大。目前我公司在職員工以90后為主，是一個有活力有能力有創(chuàng)新精神的團(tuán)隊(duì)。公司業(yè)務(wù)范圍主要包括：可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱，小型高低溫試驗(yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，快速溫變試驗(yàn)箱箱等。公司奉行顧客至上、質(zhì)量為本的經(jīng)營宗旨，深受客戶好評。公司力求給客戶提供全數(shù)良好服務(wù)，我們相信誠實(shí)正直、開拓進(jìn)取地為公司發(fā)展做正確的事情，將為公司和個人帶來共同的利益和進(jìn)步。經(jīng)過幾年的發(fā)展，已成為可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱，小型高低溫試驗(yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，快速溫變試驗(yàn)箱箱行業(yè)出名企業(yè)。