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ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性，而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴度，故越來(lái)越多的產(chǎn)品被要求進(jìn)行ECM/SIR/CAF測(cè)試，如航空產(chǎn)品、汽車產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等，以確保產(chǎn)品在相對(duì)惡劣的使用條件下的壽命與可靠性；離子遷移既然是絕緣信賴度的***，因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管，因?yàn)檫@些正是離子遷移的重要元兇。例如：加水分解性氯、電鍍液中的鹽類、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了這些控管，導(dǎo)致ECM或CAF的生成，便會(huì)造成產(chǎn)品在使用壽命及電性功能上的障礙；藉著控制鹵素及金屬鹽類的含量、銅皮上的鉻含量、樹脂中的氯含量、表面清潔度（防焊前處理），這些對(duì)絕緣劣化影響很大的項(xiàng)目，可以大幅提升高密度電路板的信賴性。常州中策儀器有限公司擁有CAF測(cè)試系統(tǒng)，若有需要，歡迎咨詢；浙江金屬材料CAF測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

隨著集成電路和微電子技術(shù)的飛速發(fā)展，電子產(chǎn)品的體積越來(lái)越小，PCB也向更輕、薄、短、小發(fā)展。層間介質(zhì)層厚度更薄，布線更密，孔壁間距更小，并且在進(jìn)一步微細(xì)化中。在這樣的層間、布線、孔密度下，PCB的絕緣性能受到越來(lái)越多的關(guān)注。如何在這樣微細(xì)的產(chǎn)品上，保持其在整個(gè)壽命周期內(nèi)的絕緣性能，是業(yè)內(nèi)所有PCB制造商所面臨的問題之一。陽(yáng)極導(dǎo)電絲（CAF）是近十年來(lái)十分熱門的絕緣劣化失效，當(dāng)PCBA在高溫高濕的環(huán)境下帶電工作時(shí)，在兩絕緣導(dǎo)體間有可能會(huì)產(chǎn)生沿著樹脂和玻纖的界面生長(zhǎng)的CAF，**終導(dǎo)致絕緣不良，甚至短路失效。常見的CAF失效有三種，即分別發(fā)生在孔到孔、孔到線、線到線之間的失效情況廣東第三方檢測(cè)CAF測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格中策儀器永遠(yuǎn)是您可信賴的朋友和合作伙伴，始終期待與您一起共享成功；

中策儀器針對(duì)手機(jī)中微型揚(yáng)聲器和振動(dòng)電機(jī)的壽命測(cè)試，研發(fā)了系列化的微型電聲器件可靠性壽命試驗(yàn)設(shè)備，產(chǎn)品覆蓋了手機(jī)揚(yáng)聲器、汽車揚(yáng)聲器、藍(lán)牙音箱、藍(lán)牙耳機(jī)、手機(jī)振動(dòng)電機(jī)的多種測(cè)試功能。為眾多的國(guó)內(nèi)電聲器件制造商和手機(jī)制造商提供了可靠的試驗(yàn)設(shè)備和方案。目前，中策儀器可以提供五十余種各類電子測(cè)量?jī)x器，涵蓋多個(gè)測(cè)量對(duì)象。例如：精密LCR數(shù)字電橋、專業(yè)的脈沖式線圈測(cè)試儀器、高精度低失真度測(cè)量?jī)x器、電聲器件測(cè)試儀器、耐電壓及絕緣電阻測(cè)量?jī)x器等。隨著中策儀器研發(fā)團(tuán)隊(duì)的發(fā)展和努力，我們將不斷推出創(chuàng)新的產(chǎn)品。為客戶提供先進(jìn)創(chuàng)新產(chǎn)品的同時(shí)，中策儀器將堅(jiān)持始終如一地為廣大客戶提供較高的品質(zhì)的服務(wù)。中策儀器永遠(yuǎn)是您可信賴的朋友和合作伙伴，并始終期待與您一起共享成功。

ECM/SIR與CAF的共同點(diǎn)與差異：

差異點(diǎn)：從產(chǎn)生的原因看：ECM/SIR是在PCB的表面產(chǎn)生金屬離子的遷移；而CAF 是發(fā)生在PCB的內(nèi)部出現(xiàn)銅離子沿著玻纖發(fā)生緩慢遷移, 進(jìn)而出現(xiàn)漏電；從產(chǎn)生的現(xiàn)象看：ECM/SIR會(huì)在導(dǎo)體間出現(xiàn)枝丫狀(Dendrite)物質(zhì)；而CAF則是出現(xiàn)在孔~孔、線~線、層~層、孔~線間，出現(xiàn)陽(yáng)極金屬絲；從監(jiān)控的方式看（除阻值監(jiān)控外）：ECM/SIR可以通過放大鏡進(jìn)行直觀的判斷；而CAF只能通過破壞性的切片進(jìn)行微觀條件下的分析；常州中策 常州中策儀器有限公司創(chuàng)建于1999年，是一家集研發(fā)、制造、營(yíng)銷于一體的****，歡迎來(lái)電哦！

那么這個(gè)高溫高濕試驗(yàn)具體到底是怎么測(cè)試的呢？首先IPC標(biāo)準(zhǔn)中有明確要求，具體的測(cè)試條款為IPC-TM-650 2.6.25 《Conductive Anodic ****ment (CAF) Resistance》。另外各大**汽車零部件廠商如德爾福、博世、大陸等也有其專門的企業(yè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，主要測(cè)試內(nèi)容就是將考試板放置在85℃，85%RH的環(huán)境中處理1000小時(shí)，并在考試板的孔與孔之間、線與線之間，或者是孔與內(nèi)層之間、層與層之間施加一定的電壓，然后持續(xù)監(jiān)控其絕緣阻值變化，通過絕緣阻值變化了解其內(nèi)部可能存在的一系列問題，而這種測(cè)試**常見的缺陷就是板材內(nèi)部出現(xiàn)了CAF現(xiàn)象。常州中策儀器有限公司擁有CAF測(cè)試系統(tǒng)；若有需要?dú)g迎來(lái)電噢。北京涂鍍層CAF測(cè)試系統(tǒng)用途

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SEM&EDS（能散X線光譜儀）分析SEM&EDS是用聚焦的很細(xì)的電子束照射被檢測(cè)的試樣表面，通過檢測(cè)二次電子或背散射電子信息進(jìn)行形貌觀察，同時(shí)測(cè)量電子與試樣相互作用所產(chǎn)生的特征X-射線的（頻率）波長(zhǎng)與強(qiáng)度，從而對(duì)微小區(qū)域所含元素進(jìn)行定性或定量分析?；谝陨显?，將上述剖切好的切片失效區(qū)域使用SEM觀察其外觀（如圖9所示），同時(shí)利用EDS對(duì)不良區(qū)域進(jìn)行元素分析。在正常區(qū)一般由碳、氧、鎳等元素組成，而有CAF通過的區(qū)域除有正常元素存在外，還有銅、溴、氯等元素（見表1）。浙江金屬材料CAF測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

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