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離子遷移測(cè)試離子遷移(CAF)測(cè)試是評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測(cè)試方法，將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中，并在相鄰的兩個(gè)絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓（偏置電壓），在長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試條件下，檢測(cè)兩個(gè)網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。實(shí)踐證明，將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線(xiàn)路板上焊接電纜線(xiàn)，施加偏置電壓，然后每隔一段時(shí)間，將PCB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出，進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試，這種間斷式的測(cè)試方法，會(huì)漏過(guò)很多實(shí)際發(fā)生的離子遷移。一方面因?yàn)閷CB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出，PCB會(huì)變得干燥，從而導(dǎo)致絕緣電阻的上升，另一方面，當(dāng)PCB在高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中承受偏置電壓時(shí)，離子遷移可能隨時(shí)發(fā)生。有效的PCB離子遷移測(cè)試，需要將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線(xiàn)路板上焊接電纜線(xiàn)，引出至環(huán)境試驗(yàn)箱外的有關(guān)測(cè)試設(shè)備上，以在線(xiàn)路板上施加促進(jìn)離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試，同時(shí)能實(shí)時(shí)檢測(cè)PCB上的泄漏電流。 上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司可以為您提供各種測(cè)試系統(tǒng)，如您有需要，請(qǐng)致電！上海微電阻測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備

    如何提高生產(chǎn)效率和良品率，需要我們?cè)谕度氪笠?guī)模產(chǎn)量之前，進(jìn)行smt貼片加工可焊性測(cè)試，這時(shí)我們需要對(duì)測(cè)試PCB原型的樣品進(jìn)行老化處理。因?yàn)?，新生產(chǎn)的部件或PCB電路板焊接面一般是沒(méi)有問(wèn)題的，但存放一段時(shí)間后會(huì)因氧化而變質(zhì)。測(cè)試必須考慮正常儲(chǔ)存條件對(duì)可焊性的影響。斯派克恒溫恒濕試驗(yàn)箱可檢測(cè)到焊端涂層的金屬性能和預(yù)期引起產(chǎn)品質(zhì)量下降的原因。PCB元器件和電子制造行業(yè)，PCB通常要求有一定的存放保質(zhì)期，通常是6-12個(gè)月。因此，要等待這段周期后再進(jìn)行測(cè)量顯然不切實(shí)際，必須采用加速存儲(chǔ)老化的方法，較常用的測(cè)試設(shè)備是高壓加速老化試驗(yàn)箱。高壓加速老化試驗(yàn)箱是提高環(huán)境應(yīng)力（溫度&濕度&壓力），在不飽和濕度環(huán)境下（濕度∶85%.）加快試驗(yàn)過(guò)程縮短試驗(yàn)時(shí)間，用來(lái)評(píng)定PCB壓合&絕緣電阻，與相關(guān)材料的吸濕效果狀況，縮短高溫高濕的試驗(yàn)時(shí)間(85℃/85%→110℃/85%),作者：斯派克環(huán)境儀器鏈接：源：知乎著作權(quán)歸作者所有。商業(yè)轉(zhuǎn)載請(qǐng)聯(lián)系作者獲得授權(quán)，非商業(yè)轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。 循環(huán)互聯(lián)應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)保養(yǎng)上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司可以為您提供各種測(cè)試系統(tǒng)，想了解詳細(xì)情況，請(qǐng)來(lái)電！

如何對(duì)測(cè)試器件進(jìn)行四線(xiàn)連接取決于器件的形式，在某些情況下，焊接可能是不可避免的。被測(cè)接點(diǎn)上的每個(gè)連接點(diǎn)都可能產(chǎn)生熱電動(dòng)勢(shì)。然而，這種熱電動(dòng)勢(shì)可以通過(guò)吉時(shí)利高精度萬(wàn)用表的電流反向或偏置補(bǔ)償方法來(lái)補(bǔ)償。測(cè)試難點(diǎn)一通常，測(cè)試接點(diǎn)電阻的目的是確定接觸點(diǎn)氧化或其它表面薄膜積累是否增加了被測(cè)器件的電阻。即使在極短的時(shí)間內(nèi)，器件兩端的電壓過(guò)高也會(huì)破壞這種氧化層或薄膜，從而破壞測(cè)試的有效性。擊穿薄膜所需要的電壓電平通常在30mV到100mV的范圍內(nèi)。在測(cè)試時(shí)流過(guò)接點(diǎn)的電流過(guò)大也能使接觸區(qū)域發(fā)生細(xì)微的物理變化。電流產(chǎn)生的熱量能夠使接觸點(diǎn)及其周?chē)鷧^(qū)域變軟或熔解。結(jié)果，接點(diǎn)面積增大，并導(dǎo)致其電阻降低。為了避免這類(lèi)問(wèn)題，通常采用干電路的方法來(lái)進(jìn)行接點(diǎn)電阻測(cè)試。干電路就是將其電壓和電流限制到不能引起接觸結(jié)點(diǎn)的物理和電學(xué)狀態(tài)發(fā)生變化電平的電路。一般地說(shuō)，這就意味著其開(kāi)路電壓20mV或更低，短路電流100mA或更低。由于所使用的測(cè)試電流很低。

耐電流測(cè)試是測(cè)試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測(cè)試方法。測(cè)試中，孔鏈被施加直流電流,此電流在測(cè)試過(guò)程中隨孔鏈溫度反饋而實(shí)時(shí)變化，使得孔鏈以設(shè)定的升溫速度V達(dá)到設(shè)定的高溫T1，然后讓孔鏈在該設(shè)定的高溫T1下保持設(shè)定的時(shí)間（t2-t1），停止施加電流，使孔鏈冷卻時(shí)間(t3-t2),直到達(dá)到室溫。根據(jù)需要還可以進(jìn)行循環(huán)測(cè)試。TI-HCT系列耐電流測(cè)試系統(tǒng)具有自動(dòng)化測(cè)試能力，實(shí)時(shí)檢測(cè)測(cè)試Coupon上的阻值變化，描述測(cè)試Coupon的阻值、溫度實(shí)時(shí)變化曲線(xiàn)，所有測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)保存到數(shù)據(jù)庫(kù)中。 上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司專(zhuān)業(yè)提供各類(lèi)測(cè)試系統(tǒng)，有需要可以電話(huà)咨詢(xún)！

電路板從開(kāi)始設(shè)計(jì)到完成成品，要經(jīng)過(guò)很多過(guò)程，元器件選型、原理圖設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)、PCB打樣制作、調(diào)試測(cè)試、性能測(cè)試、溫升測(cè)試等，經(jīng)過(guò)一系列過(guò)程，較終要得出一個(gè)性能可靠、能夠持續(xù)工作的電路板，電路板溫升不能太高，太高則對(duì)元器件壽命有影響、對(duì)電路板表現(xiàn)的性能有影響。電路板工作各個(gè)元器件都處于不同的工作狀態(tài)，在工作的時(shí)候就會(huì)產(chǎn)生了熱量，機(jī)體內(nèi)部溫升上升，因此元器件功耗是引起溫升的直接起源，除了元器件當(dāng)然還有環(huán)境溫度，因此降低電路板內(nèi)部溫度成為每個(gè)工程師設(shè)計(jì)時(shí)候必要考慮到的問(wèn)題之一，那么電路板的溫升問(wèn)題如何解決呢？增加散熱片、散熱膏對(duì)于開(kāi)關(guān)管等發(fā)熱嚴(yán)重的元器件可以增加散熱片，同時(shí)配以高導(dǎo)熱絕緣有機(jī)硅材料散熱膏，這是一種導(dǎo)熱效果很好的材料，而散熱片使元器件發(fā)出的熱量更好的傳導(dǎo)到空氣當(dāng)中，正因?yàn)檫@樣，對(duì)于高頻開(kāi)關(guān)電源基本上都是采用加有散熱片的開(kāi)關(guān)管，我們經(jīng)常用到的7805輸出功率很大時(shí)候都要增加一個(gè)散熱片。 各種測(cè)試系統(tǒng)，就選上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司，用戶(hù)信賴(lài)之選，有需要來(lái)電咨詢(xún)！上海測(cè)試系統(tǒng)保養(yǎng)

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為確保PCB電路板長(zhǎng)時(shí)間使用的質(zhì)量和可靠度，PCB電路板制造廠(chǎng)家都進(jìn)行SIR（SurfaceInsulationResistance）表面絕緣電阻的試驗(yàn)，通過(guò)試驗(yàn)找出PCB是否會(huì)發(fā)生MIG（離子遷移）與CAF（玻纖紗陽(yáng)極性漏電）現(xiàn)象，離子遷移是在加濕狀態(tài)下（如∶85℃/85%.），施加恒定偏壓（如∶50V），離子化金屬向相反電極間移動(dòng)（陰極向陽(yáng)極生長(zhǎng)），相對(duì)電極還原成原來(lái)的金屬并析出樹(shù)枝狀金屬的現(xiàn)象，造成短路，離子遷移非常脆弱，在通電瞬間產(chǎn)生的電流會(huì)使離子遷移本身溶斷消失。也為了在PCB電路板和部件的生產(chǎn)制造過(guò)程中，提高貼片加工的生產(chǎn)效率和良好率，為企業(yè)降低成品生產(chǎn)，提高經(jīng)濟(jì)效益。作者：斯派克環(huán)境儀器鏈接：源：知乎著作權(quán)歸作者所有。商業(yè)轉(zhuǎn)載請(qǐng)聯(lián)系作者獲得授權(quán)，非商業(yè)轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。上海微電阻測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備

上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司位于安亭鎮(zhèn)楊木橋支路8號(hào)6幢A區(qū)。公司自成立以來(lái)，以質(zhì)量為發(fā)展，讓匠心彌散在每個(gè)細(xì)節(jié)，公司旗下可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱，小型高低溫試驗(yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，快速溫變?cè)囼?yàn)箱箱深受客戶(hù)的喜愛(ài)。公司從事機(jī)械及行業(yè)設(shè)備多年，有著創(chuàng)新的設(shè)計(jì)、強(qiáng)大的技術(shù)，還有一批專(zhuān)業(yè)化的隊(duì)伍，確保為客戶(hù)提供良好的產(chǎn)品及服務(wù)。上海柏毅憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品、專(zhuān)業(yè)的服務(wù)、眾多的成功案例積累起來(lái)的聲譽(yù)和口碑，讓企業(yè)發(fā)展再上新高。