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XRD設(shè)備概述：X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時，會受晶體中原子的影響出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。每種晶體內(nèi)部的原子排列方式是獨(dú)一的，因此對應(yīng)的衍射花樣是獨(dú)一的，從而可以進(jìn)行物相分析。XRD設(shè)備可以進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸：儀器通過USB, 藍(lán)牙，WIFI與筆記本電腦實(shí)現(xiàn)高速連接，實(shí)時對映SHINE儀器進(jìn)行控制及物相分析。良好的環(huán)境適應(yīng)性：專為地質(zhì)考察而研制，儀器可防霧、防塵、防震動，能適應(yīng)惡劣的使用環(huán)境。安全性：專業(yè)的多重防護(hù)輻射處理，測量時儀器多方位無任何輻射泄漏。XRD 還可以測定材料中晶粒的大小或其排布取向。布魯克粉末衍射儀廠家

XRD 衍射強(qiáng)度和峰的寬度與樣品顆粒大小，還是與晶體顆粒大小有關(guān)？樣品中晶粒越小，衍射峰的峰高的強(qiáng)度越來越低，但是峰越來越寬，實(shí)際上利用 X 射線衍射峰的寬化對樣品的結(jié)晶顆粒度分析就是根據(jù)這個原理的（Scherrer 公式）。晶粒大小和顆粒大小有關(guān)系，但是其各自的含義是有區(qū)別的。一顆晶粒也可能就是一顆顆粒，但是更可能的情況是晶粒抱到一起 , 二次聚集 , 成為顆粒。顆粒不是衍射的基本單位, 但是微小的顆粒能產(chǎn)生散射。你磨的越細(xì) , 散射就越強(qiáng).。對于晶粒, 你磨過頭了, 晶體結(jié)構(gòu)被破壞了, 磨成非晶, 衍射能力就沒有了。磨得太狠的話，有些峰可能要消失了，而且相鄰較近的衍射峰會由于寬化而相互疊加，會變成 1 個或幾個"鼓包"。一般晶面間距大的峰受晶粒細(xì)化的影響會明顯一些，因?yàn)?d 值大的晶面容易被破壞。布魯克D2 Phaser代理商很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。

XRD設(shè)備是一款什么樣的設(shè)備呢？為什么XRD測試要求薄膜（塊體）樣品尺寸要合適？因?yàn)榉胖帽∧ぃ▔K體）樣品的樣品臺尺寸是固定的，用橡皮泥來固定樣品，樣品太大放不進(jìn)去，樣品太小不好固定。XRD設(shè)備是用于材料研究、工藝開發(fā)和質(zhì)量控制的新一代儀器。 該系統(tǒng)具有全自動源和檢測器光學(xué)元件以及水平樣品安裝，可以在計(jì)算機(jī)/配方控制下在標(biāo)準(zhǔn)和高分辨率 X 射線衍射和 X 射線反射率模式之間切換，而無需手動更改配置。因此XRD設(shè)備在生活中的使用是比較多的。

XRD儀器操作規(guī)程：制樣：1. 粉末樣品制樣方法： 粉末樣品應(yīng)干燥，粒度一般要求約10~80μm，應(yīng)過200目篩子（約0.08mm），且避免顆粒不均勻。用藥勺取適量樣品于玻璃樣品架中間的槽里，另取一塊載玻片，用載玻片輕輕將樣品壓緊，并將高出樣品架表面的多余粉末刮去，如此重復(fù)幾次使樣品表面平整。將樣品架邊緣的樣品刮掉，擦干凈即可進(jìn)行測試。注意事項(xiàng)：玻璃樣品架易碎、數(shù)量有限，使用要千萬小心，如有損壞按原價賠償。制樣時用力要均勻，不可力度過大，以免形成粉粒定向排列。樣品一定要刮平，且與樣品架表面高度一致，否則引起測量角度和對應(yīng)d值偏差。其他樣品：對于不易研碎的樣品，可先將其處理成與窗孔大小一致，磨平一面，再用橡皮泥或石蠟將其固定在窗孔內(nèi)，固定時橡皮泥或石蠟等請注意略低于樣品，不要與樣品齊平。片狀、纖維狀或薄膜樣品也可類似固定在樣品架的窗孔內(nèi)，應(yīng)注意使樣品表面與樣品架平齊。XRD設(shè)備的特點(diǎn)：操作簡單。

XRD設(shè)備原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生至大強(qiáng)度的光束稱為X射線的衍射線。滿足衍射條件，可應(yīng)用布拉格公式：2dsinθ=λ。應(yīng)用已知波長的X射線來測量θ角，從而計(jì)算出晶面間距d，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析;另一個是應(yīng)用已知d的晶體來測量θ角，從而計(jì)算出特征X射線的波長，進(jìn)而可在已有資料查出試樣中所含的元素。XRD設(shè)備的特點(diǎn)：超大面積，超快速度。布魯克D2 Phaser參數(shù)

XRD設(shè)備能輕松切換包括X射線管、光學(xué)器件、樣品臺和探測器在內(nèi)的光路組件，而無需對準(zhǔn)。布魯克粉末衍射儀廠家

XRD設(shè)備的的使用可以為實(shí)驗(yàn)提供便利，提供可自由進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室/野外現(xiàn)場科學(xué)研究。集成性：XRD與XRF 技術(shù)集成，在每次檢測中，能夠同時采集XRD和XRF的X射線光子數(shù)據(jù)，提供物質(zhì)成分、物相及結(jié)構(gòu)信息，從而促進(jìn)檢測結(jié)果更加精確。簡便性：儀器一鍵式操作，無需校正，自動檢測，無需額外注意高壓系統(tǒng)和水循環(huán)冷卻系統(tǒng)（儀器無額外高壓和水循環(huán)冷卻系統(tǒng)）。制樣簡單：單次分析只需要15毫克左右的樣品即可獲得優(yōu)良的檢測結(jié)果，樣品制備無需制片、壓片、刮平等，3分鐘即可完成樣品制樣（粉碎、濾篩、裝樣）。布魯克粉末衍射儀廠家

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